橡膠電阻率測(cè)試儀廠家  影響體積電阻率和表面電阻率測(cè)試的主要因素是溫度和濕度、電場(chǎng)強(qiáng)度、充電時(shí)間及殘余電荷等。體積電阻率可作為選擇絕緣材料的一個(gè)參數(shù)，電阻率隨溫度和濕度的變化而顯著變化。體積電阻率的測(cè)量常常用來檢查絕緣材料是否均勻，或者用來檢測(cè)那些能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測(cè)到的導(dǎo)電雜質(zhì)。

橡膠電阻率測(cè)試儀廠家  范圍

    本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的試驗(yàn)方法。這些試驗(yàn)方法包括對(duì)固體絕緣材料體積電阻和表面電阻的測(cè)定程序及體積電阻率和表面電阻率的計(jì)算方法。

    體積電阻和表面電阻的試驗(yàn)都受到下列因素影響：施加電壓的大小和時(shí)間；電極的性質(zhì)和尺寸；在試樣處理和測(cè)試過程中周圍大氣條件和試樣的溫度、濕度。

溫度和濕度：固體絕緣材料的絕緣電阻率隨溫度和濕度的升高而降低，特別是體積電阻率隨溫度改變而變化非常大。因此，電瓷材料不但要測(cè)定常溫下的體積電阻率，而且還要測(cè)定高溫下的體積電阻率，以評(píng)定其絕緣性能的好壞。由于水的電導(dǎo)大，隨著濕度增大，表面電阻率和有開口孔隙的電瓷材料的體積電阻率急劇下降。因此，測(cè)定時(shí)應(yīng)嚴(yán)格地按照規(guī)定的試樣處理要求和測(cè)試的環(huán)境條件下進(jìn)行。

雜散電勢(shì)的消除：在絕緣電阻測(cè)量電路中，可能存在某些雜散電勢(shì)，如熱電勢(shì)、電解電勢(shì)、接觸電勢(shì)等，其中影響最大的為電解電勢(shì)。用高阻計(jì)測(cè)量表面潮濕的試樣的體積電阻時(shí)，測(cè)量極與保護(hù)極間可產(chǎn)生20mv的電勢(shì)。試驗(yàn)前應(yīng)檢查有無雜散電勢(shì)。可根據(jù)試樣加壓前后高阻計(jì)的二次指示是否相同來判斷有無雜散電勢(shì)。如相同，證明無雜散電勢(shì)；否則應(yīng)當(dāng)尋找并排除產(chǎn)生雜散電勢(shì)的根源，才能進(jìn)行測(cè)量。

由于或多或少的體積電導(dǎo)總是要被包括到表面電導(dǎo)測(cè)試中去，因此不能精確只能近似的測(cè)量表面電阻或表面電導(dǎo)。測(cè)得的值主要反映被測(cè)試樣表面污染的特性。而且試樣的電容率影響污染物質(zhì)的沉積，它們的導(dǎo)電能力受試樣的表面特性所影響。因此表面電阻率不是一個(gè)真正意義的材料特性，而是材料表面含有污染物質(zhì)時(shí)與材料特性有關(guān)的一個(gè)參數(shù)。

    某些材料如層壓材料在表面層和內(nèi)部可能有很不同的電阻事。因此測(cè)量清潔的表面的內(nèi)在性能是有意義的。應(yīng)完整地規(guī)定為獲得一致的結(jié)果而進(jìn)行清潔處理的程序，并要記錄清潔過程中溶劑或其他因素對(duì)于表面特性可能產(chǎn)生的影響。

表面電阻，特別是當(dāng)它較高時(shí)，常以不規(guī)則方式變化，且通常非常依賴于電化時(shí)闖。因此，測(cè)量時(shí)通常規(guī)定一分鐘的電化時(shí)間。

條件處理和測(cè)試條件的規(guī)定:固體絕緣材料的電阻隨溫度、濕度的增加而下降。試樣的預(yù)處理?xiàng)l件取決于被測(cè)材料，這些條件在材料規(guī)范中規(guī)定。推薦使用GB10580《固體絕緣材料在試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)采用的標(biāo)準(zhǔn)條件》中規(guī)定的預(yù)處理方法。可使用甘油—水溶液潮濕箱進(jìn)行濕度預(yù)處理。測(cè)試條件應(yīng)與預(yù)處理?xiàng)l件盡可能地一致，有些時(shí)候（如浸水處理）不能保持預(yù)處理?xiàng)l件和測(cè)試條件一致時(shí)，則應(yīng)在從預(yù)處理環(huán)境中取出后在盡可能短時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試，一般不超過5分鐘。

絕緣材料的電阻率一般都很高，也就是傳導(dǎo)電流很小。如果不注意外界因素的干擾和漏電流的影響，測(cè)量結(jié)果就會(huì)發(fā)生很大的誤差。同時(shí)絕緣材料本身的吸濕性和環(huán)境條件的變化對(duì)測(cè)量結(jié)果也有很大影響。

 體積電阻率volume res~stivity

  在絕緣材料里的直流電場(chǎng)強(qiáng)度和穩(wěn)態(tài)電流密度之商，即單位體積內(nèi)的體積電阻。

  注；體積電阻率的Si單位是Ω。m。實(shí)際上也使用Ω?cm這一單位。

技術(shù)指標(biāo)

1.   電阻測(cè)量范圍： 1?104Ω ～1?1018Ω，分為十個(gè)量程。

2.   電流測(cè)量范圍為2?10-4A ～1?10-16A

3.   全數(shù)字液晶屏顯示。

4.   準(zhǔn)確度: 準(zhǔn)確度優(yōu)于下表

量程 有效顯示范圍 20～30℃ RH<80%

104 0.01~19.99 5%

105 0.01～19.99 5%

106 0.01～19.99 5%

107 0.01～19.99 5%

108 0.01～19.99 5%

109 0.01～19.99 5%

1010    0.01～19.99 5% 2字

1011     0.01～19.99 5% 2字

1012 0.01～19.99 5% 5字

1013 0.01～19.99 10% 5字

1014 0.01～19.99 10% 5字

1014以上 0.01～19.99 10-15% 5字

超出有效顯示范圍時(shí)誤差有可能增加，測(cè)試電流準(zhǔn)確度與電阻相同，測(cè)試電壓準(zhǔn)確度為 10%

5. 使用環(huán)境: 溫度 -10℃～50℃ 相對(duì)濕度<90%。

6. 測(cè)試電壓: DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。?10%

7. 供電形式: AC 220V，50HZ，功耗約10W。

8. 儀器尺寸: 300ｍｍ? 280ｍｍ? 150 mm。

9. 質(zhì)量: 約3.0KG。

典型應(yīng)用

1.硫化橡膠體積、表面電阻率測(cè)定

2.測(cè)量防靜電鞋、導(dǎo)電鞋的電阻值

3.測(cè)量防靜電材料的電阻及電阻率

4.測(cè)量計(jì)算機(jī)房用活動(dòng)地板的系統(tǒng)電阻值

5.測(cè)量絕緣材料電阻(率)

6.光電二極管暗電流測(cè)量

7.物理,光學(xué)和材料研究

8.高分子材料表面體積電阻率測(cè)定

安全注意事項(xiàng)

1. 使用前務(wù)必詳閱此說明書，并遵照指示步驟，依次操作。

2. 請(qǐng)勿使用非原廠提供之附件，以免發(fā)生危險(xiǎn)。

3. 進(jìn)行測(cè)試時(shí)，本儀器測(cè)量端高壓輸出端上有直流高壓輸出，嚴(yán)禁人體接觸 ，以

免觸電。

4. 為避免測(cè)試棒本身絕緣泄漏造成誤差，接儀器測(cè)量端輸入的測(cè)試棒應(yīng)盡可 能懸

空，不與外界物體相碰。

5. 當(dāng)被測(cè)物絕緣電阻值高，且測(cè)量出現(xiàn)指針不穩(wěn)現(xiàn)象時(shí)，可將儀器測(cè)量線屏 蔽端夾子接 上。 例如： 對(duì)電 纜測(cè)纜 芯與 纜殼的 絕緣 時(shí)，除 將被 測(cè)物兩 端分 別接于 輸入 端與高壓 端， 再將電 纜殼 ，芯之 間的 內(nèi)層絕 緣物 接儀器 “G”，以消 除因 表面漏 電而 引起的測(cè) 量誤 差。也 可用 加屏蔽 盒的 方法， 即將 被測(cè)物 置于 金屬屏 蔽盒 內(nèi)，接 上測(cè) 量線。

測(cè)試步驟：

1、測(cè)試溫度23?2℃，相對(duì)濕度65?5%，無外界電磁場(chǎng)干擾環(huán)境中進(jìn)行。

2、測(cè)試時(shí)對(duì)試樣所加電壓為100V~500V的直流電壓，選擇電壓檔次。

3、將試樣倒入高壓電極內(nèi)，使液面剛好和環(huán)電極下緣全部接觸為止。

4、將充分放電后的試樣和電極，按固體（液體）體積及表面電阻率測(cè)試儀要求接線。

外電極（高壓電極）接高固體（液體）體積及表面電阻率測(cè)試儀的高壓輸出端。

內(nèi)電極（測(cè)量電極）接固體（液體）體積及表面電阻率測(cè)試儀的測(cè)量端。

中電極（環(huán)電極）接固體（液體）體積及表面電阻率測(cè)試儀的接地端。

5、儀器預(yù)熱30分鐘，穩(wěn)定后調(diào)整儀器（調(diào)零），加上試驗(yàn)1分鐘，讀取電阻指示值，然后放電1分鐘，再測(cè)試一次，以二次的算術(shù)平均值作為試驗(yàn)樣品電阻指示值。

材料說明

A、通常,絕緣材料用于電氣系統(tǒng)的各部件相互絕緣和對(duì)地絕緣,固體絕緣材料還起機(jī)械支撐作用.一般希望材料有盡可能高的絕緣電阻,并具有合適的機(jī)械、化學(xué)和耐熱性能.

B、體積電阻班組可作為選擇絕緣材料的一個(gè)參數(shù),電阻率隨溫度和濕度的京戲化而顯著變化.體積電阻率的測(cè)量常常用來檢查絕緣材料是否均勻,或都用來檢測(cè)那些能影響材料質(zhì)量而又不能作其他方法檢測(cè)到的導(dǎo)電雜質(zhì).

C、當(dāng)直流電壓加到與試樣接觸的兩電極間時(shí),通過試樣的電流會(huì)指數(shù)式地衰減到一個(gè)穩(wěn)定值.電流隨時(shí)間的減小可能是由于電介質(zhì)極化和可動(dòng)離子位移到電極所致.對(duì)于體積電阻小于10的10Ω.m

的材料,其穩(wěn)定狀態(tài)通常在1min內(nèi)達(dá)到.因此,要經(jīng)過這個(gè)電化時(shí)間后測(cè)定電阻.對(duì)于電阻率較高的材料,電流減小的過程可能會(huì)持續(xù)幾分鐘、幾小時(shí)、幾天,因此需要用較長(zhǎng)的電化時(shí)間.如果需要的話,可用體積電阻率與關(guān)系來描述材料的特性.

D、由于體積電阻總是要被或多或少地包括到表面電阻的測(cè)試中去,因些近似地測(cè)量表面電阻,測(cè)得的表面電阻值主要反映被測(cè)試樣表面污染的程度.所以,表面電阻率不是表面材料本身特性的參數(shù),而是一個(gè)有關(guān)材料表面污染特性的參數(shù).

當(dāng)表面電阻較高時(shí),它常隨時(shí)間以不規(guī)則的方式變化.測(cè)量表面電阻通常都規(guī)定11min的電化時(shí)間.

測(cè)試

測(cè)量時(shí)從低檔位逐漸拔往高檔，每撥一次稍停留1～2秒以使觀察顯示數(shù)字， 當(dāng)被測(cè)電阻大于儀器測(cè)量量程時(shí)，電阻表顯示“1”，此時(shí)應(yīng)繼續(xù)將儀器撥到量程更高的位置，當(dāng)測(cè)量?jī)x器有顯示值時(shí)應(yīng)停下，當(dāng)前的數(shù)字乘以檔次即是被測(cè)電阻值。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不要再往更高次檔撥，否測(cè)儀器會(huì)過量程，機(jī)內(nèi)保護(hù)電路開始工作，儀器測(cè)量準(zhǔn)確度會(huì)下降。

條件處理

    試樣的處理?xiàng)l件取決于被試材料，這些條件應(yīng)在材料規(guī)范中規(guī)定。

    推薦按GB／T 10580—2003進(jìn)行條件處理；由各種鹽溶液所產(chǎn)生的相對(duì)濕度在IEC 60260中給出。

可以采用機(jī)械蒸發(fā)系統(tǒng)。

    體積電阻率和表面電阻率都聰溫度變化特別敏感。這種變化是指數(shù)式的。因此必須在規(guī)定的條件

下來測(cè)量試祥的體積電阻和表蕊電阻。由于水分被吸收到電介質(zhì)內(nèi)是相對(duì)緩慢的過程，因此測(cè)定濕度

對(duì)體積電阻率的影響需要延長(zhǎng)處理期。吸收水分后通常會(huì)降低體積電阻。有些試樣可能需要處理數(shù)月

才能達(dá)到平衡。比較法

A. 2. 1 惠斯登電橋法

 如圖 6所示，試樣與惠斯登電橋的一個(gè)臂相連接 三個(gè)已知橋臂應(yīng)具有盡可能高的電阻值 ，它們受到橋臂中電阻器的固定誤差所限制 通常電阻RB是以十進(jìn)級(jí)變化的，電阻RA用來作平衡微調(diào)，而RN在測(cè)量過程中是固定不變的。檢測(cè)器是一個(gè)直流放大器，它的輸入電阻比電橋內(nèi)任何一個(gè)橋臂的電阻值 都高 。未知 電阻 R,計(jì)算 如下 :

    RNRB

Rx=--------

RA

 式中 :

 RA、RB和 RN如圖 6所示。

 當(dāng)零指示器有足夠的靈敏度時(shí)，計(jì)算出的電阻的最大百分誤差是RA,RB和RN的百分誤差的總和。如果 RA和RB為繞線電阻，且其值較低例如 1 MΩ，則它們的誤差可忽略不計(jì)，測(cè)量很高的電阻時(shí) RN可選為109Ω,RN的測(cè)量精確度為?2% 測(cè)定比值RB/RA的精確度取決于零指示器的靈敏度 如果未知電阻Rx＞＞RN，則測(cè)定比值 r=RB/RA時(shí)的不精確性 △r由△r/r=IR?Rx/U來決定，式中 Ig是零指示器的最小分辨電流,U是施加到電橋的電壓。例如，使用電子放大器，其輸人電阻為 1 MΩ，滿刻度偏轉(zhuǎn)時(shí)的輸人電壓為10-5 V，則最低的分辨電流約為2X10 13A，相當(dāng)于滿刻度偏轉(zhuǎn)的2% 當(dāng)Ig為此值，U=100 V,R=1013 Ω時(shí)，可得到 △r/r=0. 02或 2%.

    電阻值不大于1013 Ω～1014Ω的電阻可用惠斯登電橋法在 100 V下以所要求的精確度來測(cè)量.

影響體積電阻率和表面電阻率測(cè)試的主要因素是溫度和濕度、電場(chǎng)強(qiáng)度、充電時(shí)間及殘余電荷等。體積電阻率可作為選擇絕緣材料的一個(gè)參數(shù)，電阻率隨溫度和濕度的變化而顯著變化。體積電阻率的測(cè)量常常用來檢查絕緣材料是否均勻，或者用來檢測(cè)那些能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測(cè)到的導(dǎo)電雜質(zhì)