冠層是指林木枝葉的稠密頂層，研究冠層結構可獲知冠層中光線穿透情況、冠層生產力等基礎數據。在農業生產中，作物群體結構是影響冠層光分布的重要因素。合理的群體結構、良好的冠層內光輻射分布以及較高的光能利用率與作物高產密不可分。生產中常通過栽培措施調整株型和葉片的方位等來影響冠層結構，從而改善光的有效截獲。利用冠層分析儀便可快速分析冠層受光狀況，為植物冠層研究、農業生產提供基礎的數據資料。

農業生產中，種植密度是影響群體冠層結構的重要參數，在一定的密度范圍內群體的葉面積、光合勢、地上部干物質積累和冠層光截獲量均隨密度的增加而增加。但是隨密度的進一步升高，作物生育后期過高的冠層高光戴獲率，將削弱中下部葉片的光照條件，降低群體生產能力。冠層分析儀能測量冠層葉面積指數、葉片平均傾角、散射輻射透過率、PAR、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、葉面積密度的方位分布等，它采用圖像分析法，通過攝像頭和專用分析軟件來對冠層的有效圖像區域進行分析、測量（分區分析），保證測量數據更加精確。

另外，TOP-1200型冠層分析儀通過光譜分析，耦合作物生長監測診斷模型，可獲取作物生長信息，并診斷作物氮素匱缺情況。可測量作物冠層植被指數RVI和NDVI，包括葉層氮含量、葉層氮積累量、葉面積指數、葉干重等生長指標。它們的應用，為植物冠層研究提供了很大的助力。

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冠層分析儀http://www.tpynkj.net/product/index/79.html