PMST系列半導體靜態參數測試儀 功率器件測試設備是武漢普賽斯正向設計,精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統,是一致能夠提供IV,CV、跨導等豐富功能的綜合測試系統,具有高精度、寬測量范圍、模塊化設計、輕松升級擴展等優勢,旨在全面滿足從基礎功率二極管、MOSFET. BJT、 IGBT到寬禁帶半導體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態參數表征和測試,并具有卓越的測量效率、一致性與可靠性。讓任何工程師使用它都能變成行業專家。
針對用戶不同測試場景的使用需求,普賽斯全新推出PMST功率器件靜態參數測試系統、PMST-MP功率器件靜態參數半自動化測試系統、PMST-AP功率器件靜態參數全自動化測試系統三款功事器件靜態參數測試系統。詳詢一八一四零六六三四七六;
系統特點和優勢:
單臺Z大3500V輸出;
單臺Z大1000A輸出,可并聯后Z大6000A;
15us的超快電流上升沿;
同步測量;
國標全指標的自動化測試;
系統指標
項目 | 參數 | |
集電極-發射極 | Z大電壓. | 3500V |
Z大電流 | 6000A | |
精度 | 0.10% | |
大電壓上升沿 | 典型值5ms | |
大電流上升沿 | 典型值15us | |
大電流脈寬 | 50us~500us | |
漏電流測試量程 | 1nA~100mA | |
柵極-發射極 | Z大電壓 | 300V |
Z大電流 | 1A(直流)/10A(脈沖) | |
精度 | 0.05% | |
Z小電壓分辨率 | 30uV | |
Z小電流分辨率 | 10pA | |
電容測試 | 典型精度 | 0.5% |
頻率范圍 | 10Hz~1MHz | |
電容值范圍 | 0.01pF~9.9999F | |
溫控 | 范圍 | 25℃~150℃ |
精度 | ?1℃ |
測試項目
集電極-發射極電壓Vces,集電極-發射極擊穿電壓V(br)ces、集電極-發射極飽和電壓Vcesat
集電極截止電流Ices、柵極漏電流Iges
柵極-發射極電壓Vges、柵極-發射極閾值電壓Vge(th)
輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容
續流二極管壓降Vf
I-V特性曲線掃描,C-V特性曲線掃描等
普賽斯半導體靜態參數測試儀 功率器件測試設備集多種測量和分析功能一體,可精準測量功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導體等)的靜態參數,電壓可高達10KV,電流可高達6KA。該系統可測量不同封裝類型的功率器件的靜態參數,具有高電壓和大電流特性,uΩ級電阻,皮安級電流精準測量等特點。支持高壓模式下測量功率器件結電容,如輸入電容,輸出電容、反向傳輸電容等。功率器件靜態參數測試系統采用模塊化設計,方便用戶添加或升級測量模塊,適應測量功率器件不斷變化的需求。
選擇普賽斯儀表的理由
武漢普賽斯是國內最早生產源表的廠家,產品系列豐富:產品覆蓋不同的電壓、電流范圍,產已經過了市場的考驗、市面有近500臺源表在使用;
普賽斯儀表特色:高電流、高電壓測試,3500V電壓下可測量pA級漏電流,1000A脈沖電流源15us的超快上升沿。
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