半導體分立器件主要包括二極管(Diode)、三極管(BJT)、晶閘管(SCR)、場效應晶體管(MOSFET)、絕緣柵雙極性晶體管(IGBT)等產品,iv測試儀 分立器件iv曲線掃描儀認準生產廠家武漢普賽斯儀表，普賽斯五合一高精度數字源表（SMU）可為高校科研工作者、器件測試工程師及功率模塊設計工程師提供測量所需的工具，接線簡單、方便操作，半導體性能檢測設備iv曲線掃描儀詳詢一八一四零六六三四七六；

測試曲線圖：

利用數字源表簡化半導體分立器件特性參數測試

豐富的半導體IV特性測試行業經驗；

全面的解決方案：二極管、MOSFET、BJT、IGBT、二極管電阻器及晶閘管等；

提供適當的電纜輔件和測試夾具……

普賽斯S系列數字源表優點：

同時精確提供和測量電壓和/或電流；

   同步測量，減少測試時間

提供和測量非常廣的電流和電壓；

   電壓測試范圍30uV-300V,電流測試范圍1pA-1A

支持運行用戶腳本程序，無需電腦控制，提高生產測試速度；

   序列測試，簡化操作，降低成本

采用用戶熟悉的圖形界面，不管用戶經驗是否豐富，使用起來都非常簡便；

   觸屏操作

與傳統電源比：

電源過零需要改變線連接方式；

   增加需反復開關機械開關，降低了設備可靠性

電壓電流限制精度有限；

   電壓1%，電流10mA

與電源結合萬用表組合比：

萬用表電源組合需要編程實現設備控制及同步；

   復雜連線、編程開發

電源限壓限流性能差

    限壓限流精度低，瞬態特性也無法保證

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