絕緣試樣高頻介電常數測試儀 工作特性
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023;
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
c.標稱誤差
| A(高頻) | C(工頻) |
頻率范圍 | 25kHz~10MHz | 100kHz~10MHz |
固有誤差 | ≤5%?滿度值的2% | ≤5%?滿度值的2% |
工作誤差 | ≤7%?滿度值的2% | ≤7%?滿度值的2% |
頻率范圍 | 10MHz~60MHz | 10MHz~160MHz |
固有誤差 | ≤6%?滿度值的2% | ≤6%?滿度值的2% |
工作誤差 | ≤8%?滿度值的2% | ≤8%?滿度值的2% |
2.電感測量范圍
A | C |
14.5nH~8.14H | 4.5nH~140mH |
3.電容測量
| A | C |
直接測量范圍 | 1~460p | 1~205p |
主電容調節范圍 | 40~500pF | 18~220pF |
準確度 | 150pF以下?1.5pF; 150pF以上?1% | 150pF以下?1.5pF 150pF以上?1% |
注:大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。
4.信號源頻率覆蓋范圍
| A | C |
頻率范圍 | 10kHz~60MHz | 0.1~160MHz |
CH1 | 10~99.9999kHz | 0.1~0.999999MHz |
CH2 | 100~999.999kHz | 1~9.99999MHz |
CH3 | 1~9.99999MHz | 10~99.9999MHz |
CH4 | 10~60MHz | 100~160MHz |
頻率指示誤差 | 3?10-5?1個字 |
|
5.Q合格指示預置功能:預置范圍:5~1000
6.Q表正常工作條件
a. 環境溫度:0℃~ 40℃;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V?22V,50Hz?2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c.外型尺寸:(寬?高?深)mm:380?132?280。
絕緣試樣高頻介電常數測試儀 主要技術特性:
介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至最低,并保留了原Q表中自動穩幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等。
為什么介電常數越大,絕緣能力越強?
因為物質的介電常數和頻率相關,通常稱為介電系數。
介電常數又叫介質常數,介電系數或電容率,它是表示絕緣能力特性的一個系數。所以理論上來說,介電常數越大,絕緣性能就越好。
注:這個性質不是絕對成立的。
對于絕緣性不太好的材料(就是說不擊穿的情況下,也可以有一定的導電性)和絕緣性很好的材料比較,這個結論是成立的。
但對于兩個絕緣體就不一定了。
介電常數反映的是材料中電子的局域(local)特性,導電性是電子的全局(global)特征.不是一回事情的。
補充:
電介質經常是絕緣體。其例子包括瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料,和各種金屬氧化物。有些液體和氣體可以作為好的電介質材料。干空氣是良好的電介質,并被用在可變電容器以及某些類型的傳輸線。蒸餾水如果保持沒有雜質的話是好的電介質,其相對介電常數約為80。
對于時變電磁場,物質的介電常數和頻率相關,通常稱為介電系數。介電常數又叫介質常數,介電系數或電容率,它是表示絕緣能力特性的一個系數
電感:
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
特點:
1雙掃描技術-測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
2雙測試要素輸入-測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
3雙數碼化調諧-數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。
4自動化測量技術-對測試件實施Q值、諧振點頻率和電容的自動測量。
5全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、Q值、信號源頻率、諧振指針。
6 DDS數字直接合成的信號源-確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩定。
7計算機自動修正技術和測試回路最優化 —使測試回路 殘余電感減至最低,徹底根除Q讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
標準配置:
高配Q表 一只
試驗電極 一只(c類)
電感 一套(9只)
電源線 一條
說明書 一份
合格證 一份
保修卡 一份
測試注意事項
a.本儀器應水平安放;
b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預熱30分鐘;
c.調節主調電容或主調電容數碼開關時,當接近諧振點時請緩調;
d.被測件和測試電路接線柱間的接線應盡量短,足夠粗,并應接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數所帶來的測量誤差;
e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;
f.手不得靠近試件,以免人體感應影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。
電氣絕緣材料的性能和用途
1、電介質的用途
電介質一般被用在兩個不同的方面:
用作電氣回路元件的支撐,并且使元件對地絕緣及元件之間相互絕緣;
用作電容器介質
2、影響介電性能的因素
下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強度對介電性能的影響。
2.1頻率
因為只有少數材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內它們的。r和tans幾乎是恒定的,且被用作工程電介質材料,然而一般的電介質材料必須在所使用的頻率下測量其介質損耗因數和電容率。
電容率和介質損耗因數的變化是由于介質極化和電導而產生,最重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導致的界面極化所引起的.
2.2溫度
損耗指數在一個頻率下可以出現一個最大值,這個頻率值與電介質材料的溫度有關。介質損耗因數和電容率的溫度系數可以是正的或負的,這取決于在測量溫度下的介質損耗指數最大值位置。
2.3濕度
極化的程度隨水分的吸收量或電介質材料表面水膜的形成而增加,其結果使電容率、介質損耗因數和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時對環境濕度進行控制是必不可少的.
注:濕度的顯著影響常常發生在1MHz以下及微波頻率范圍內
2.4電場強度
存在界面極化時,自由離子的數目隨電場強度增大而增加,其損耗指數最大值的大小和位置也隨此而變。
在較高的頻率下,只要電介質中不出現局部放電,電容率和介質損耗因數與電場強度無關
西林電橋是測量電容率和介質損耗因數的最經典的裝置。它可使用從低于工頻(50 Hz-60 Hz)直至100 kHz的頻率范圍,通常測定50 pF-1 000 pF的電容(試樣或被試設備通常所具有的電容)這是一個四臂回路(圖A. 1)。其中兩個臂主要是電容(未知電容Cx和一個無損耗電容C,)。另外兩臂(通常稱之為測量臂)由無感電阻R,和R:組成,電阻R,在未知電容Cx的對邊上,測量臂至少被一個電容C,分流 一般地說,電容C:和兩個電阻R,和R:中的一個是可調的。
如果采用電阻R、和(純)電容C的串聯等值回路來表示電容Cx,則圖A. 1所示的電橋平衡時導出:
R1
Cs=Cn?——
R2
和tanδx=ωCSRS=ωC1R1
如果電阻R2被一個電容C2分流,則tanδ =的公式變為:
Tanδx=ωC1R1---ωC2R2
由于頻率范圍的不同,實際上電橋構造會有明顯的不同。例如一個50 pF-1 000 pF的電容在50 Hz時的阻抗為60 MΩ-3 MΩ,在100 kHz時的阻抗為3 000Ω-1 500Ω.
頻率為100 kHz時,橋的四個臂容易有相同數量級的阻抗,而在50 Hz-60 Hz的頻率范圍內則是不可能的。因此,出現了低頻和(相對)高頻兩種不同形式的電橋.
低頻電橋
一般為高壓電橋,這不僅是由于靈敏度的緣故,也因為在低頻下正是高電壓技術特別對電介質損耗關注的問題。電容臂和測量臂兩者的阻抗大小在數量級上相差很多,結果,絕大部分電壓都施加在電容Cx和C}上,使電壓分配不平衡 上面給出的電橋平衡條件只是當低壓元件對高壓元件屏蔽時才成立。同時,屏蔽必須接地,以保證平衡穩定。如圖A. 2所示。屏蔽與使用被保護的電容C、和C、是一致的,這個保護對于Ch來說是必不可少的。
由于選擇不同的接地方法,實際上形成了兩類電橋。
服務
1.供方質量保證體系嚴格按照ISO9001質量標準之要求執行
2.培訓:可根據客戶要求在設備出廠前或設備到場后,對需方的技術人員進行操作、保養及設備維護進行技術培訓
3.服務:當設備因質量或其他原因不能正常工作時,我公司在得到通知后24小時內給予答復;需要現場維修時,我公司在得到通知后48小時內派員上門維修、檢測
4.設備保修期為1年。
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