PID形成原因

組件PID效應(yīng)是電池組件長(zhǎng)期在直流側(cè)系統(tǒng)的高電壓作用下，導(dǎo)致玻璃、封裝材料之間出現(xiàn)漏電流，大量電荷聚集在電池片表面，使得電池表面的鈍化效果惡化，電池組件的填充因子、開(kāi)路電壓、短路電流減少，導(dǎo)致組件性能衰減，幾端情況下，PID效應(yīng)會(huì)導(dǎo)致組件50%以上的功率損失，影響整個(gè)組串功率輸出

在高溫高濕環(huán)境下（ 85?C 和 85%RH  ）給組件內(nèi)部帶電體與邊框之間施加等于組件最大系統(tǒng)額定電壓(?1000V或?1500V)的電壓偏差，當(dāng)內(nèi)部光伏電路相對(duì)于地面為負(fù)偏壓時(shí)，框架和電池之間的電壓可導(dǎo)致玻璃中的鈉離子向電池表面漂移形成的漏電流,就會(huì)通過(guò)邊框或安裝支架流入大地，從而出現(xiàn)PID效應(yīng)，光伏組件PID測(cè)試高壓電源認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；

PID測(cè)試儀器組成

測(cè)試所需主要儀器為：

步入式環(huán)境測(cè)試箱；

絕緣耐壓測(cè)試儀；

接地連續(xù)性測(cè)試儀；

PID測(cè)試直流電壓源；

HALM太陽(yáng)模擬器（AAA 級(jí)）；

EL測(cè)試儀等。

PID測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)

PID 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)引自 IEC 62804 （Draft）

根據(jù)IEC61730-2 MST  01進(jìn)行外觀檢測(cè)；

根據(jù)IEC61215第二版進(jìn)行蕞大功率測(cè)試

根據(jù)IEC61215第二版條目10.15進(jìn)行濕漏電流測(cè)試；

如果組件有裸露的導(dǎo)電部位，則要根據(jù)IEC61730-2   MST13進(jìn)行接地連續(xù)性測(cè)試。

PID測(cè)試連線圖以及測(cè)試電源要求

光伏組件PID測(cè)試高壓電源需求

電源電壓：-1500V～0V/   0～ 1500V

電源時(shí)漂：≤0.3%/h

電源溫漂：≤0.5‰/℃

電源紋波：≤0.5%

電流范圍：1～1000 uA /-1000   uA～-1

試驗(yàn)時(shí)間：0～168h

普賽斯儀表光伏組件PID測(cè)試高壓電源優(yōu)勢(shì)：

1、支持恒壓測(cè)流模式

2、蕞大電壓高達(dá)3500V

3、最小電流低至1nA；詳詢一八一四零六六三四七六；