美國(guó)AB——1771-CAD變頻器處理器輸入模塊觸摸屏質(zhì)保一年
1734-232ASC 1746-FIO4I 1747-AENTR 1756-A10 1762-IA8
1734-485ASC 1746-FIO4V 1747-BA 1756-A13 1762-IF2OF2
1734-4IOL 1746-HSCE 1747-BAJMPR 1756-A17 1762-IF4
1734-8CFG 1746-HSCE2 1747-C10 1756-A4 1762-IQ16
1734-8CFGDLX 1746-HSTP1 1747-C13 1756-A7 1762-IQ32T
1734-ACNR 5 1747-C20 1756-BA1 1762-IQ8
1734-ADN 1746-IA16 1747-CP3 1756-BA2 1762-IQ8OW6
1734-ADNX 1746-IA4 1747-DU501 1756-BATA 1762-IR4
1734-AENT 1746-IA8 1747-FC 1756-BATM 1762-IT4
1734-AENTK 1746-IB16 1747-KY1 1756-CFM 1762-L24AWA
1734-AENTR 1746-IB32 1747-L532 1756-CN2 1762-L24AWAR
1734-AENTRK 1746-IB8 1747-L533 1756-CN2R 1762-L24BWA
1734-APB 1746-IC16 1747-L541 1756-CNB 1762-L24BWAR
1734-ARM 1746-IG16 1747-L542 1756-CNBR 1762-L24BXB
1734-ARMK 1746-IH16 1747-L543 1756-CP3 1762-L24BXBR
1734-CTM 1746-IM16 1747-L551 1756-CPR2 1762-L40AWA
1734-CTMK 1746-IM4 1747-L552 1756-DH485 1762-L40AWAR
1734-EP24DC 1746-IM8 1747-L553 1756-DHRIO 1762-L40BWA
1734-EP24DCK 1746-IN16 1747-M13 1756-DNB 1762-L40BWAR
1734-EPAC 1746-INT4 1747-M15 1756-EN2F 1762-L40BXB
1734-EXT1 1746-IO12 1747-OS302 1756-EN2T 1762-L40BXBR
1734-EXT3 1746-IO12DC 1747-OS401 1756-ENBT 1762-OA8
1734-FPD 1746-IO4 1747-RL302 1756-EWEB 1762-OB16
1734-FPDK 1746-IO8 1747-SDN 1756-HSC 1762-OB32T
美國(guó)AB——1771-CAD變頻器處理器輸入模塊觸摸屏質(zhì)保一年
在計(jì)算機(jī)視覺(jué)中的Blob是指圖像中的具有相似顏色、紋理等特征所組成的一塊連通區(qū)域。Blob分析（BlobAnalysis）是對(duì)圖像中相同像素的連通域進(jìn)行分析(該連通域稱為Blob)。其過(guò)程就是將圖像進(jìn)行二值化，分割得到前景和背景，然后進(jìn)行連通區(qū)域檢測(cè)，從而得到Blob塊的過(guò)程。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，blob分析就是在一塊“光滑”區(qū)域內(nèi)，將出現(xiàn)“灰度突變”的小區(qū)域?qū)ふ页鰜?lái)。舉例來(lái)說(shuō)，假如現(xiàn)在有一塊剛生產(chǎn)出來(lái)的玻璃，表面非常光滑，平整。如果這塊玻璃上面沒(méi)有瑕疵，那么，我們是檢測(cè)不到“灰度突變”的；相反，如果在玻璃生產(chǎn)線上，由于種種原因，造成了玻璃上面有一個(gè)凸起的小泡、有一塊黑斑、有一點(diǎn)裂縫，那么，我們就能在這塊玻璃上面檢測(cè)到紋理，經(jīng)二值化（BinaryThresholding）處理后的圖像中色斑可認(rèn)為是blob。而這些部分，就是生產(chǎn)過(guò)程中造成的瑕疵，這個(gè)過(guò)程，就是Blob分析。Blob分析工具可以從背景中分離出目標(biāo)，并可以計(jì)算出目標(biāo)的數(shù)量、位置、形狀、方向和大小，還可以提供相關(guān)斑點(diǎn)間的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。在處理過(guò)程中不是對(duì)單個(gè)像素逐一分析，而是對(duì)圖像的行進(jìn)行操作。圖像的每一行都用游程長(zhǎng)度編碼（RLE）來(lái)表示相鄰的目標(biāo)范圍。這種算法與基于像素的算法相比，大大提高了處理的速度。但另一方面，Blob分析并不適用于以下圖像：1.低對(duì)比度圖像；2.必要的圖像特征不能用2個(gè)灰度級(jí)描述；3.按照模版檢測(cè)(圖形檢測(cè)需求)。總的來(lái)說(shuō)，Blob分析就是檢測(cè)圖像的斑點(diǎn)，適用于背景單一，前景缺陷不區(qū)分類別，識(shí)別精度要求不高的場(chǎng)景。模板匹配法template matching模板匹配是一種最原始、最基本的模式識(shí)別方法，研究某一特定對(duì)象物的圖案位于圖像的什么地方，進(jìn)而識(shí)別對(duì)象物，這就是一個(gè)匹配問(wèn)題。它是圖像處理中最基本、最常用的匹配方法。換句話說(shuō)就是一副已知的需要匹配的小圖像，在一副大圖像中搜尋目標(biāo)，已知該圖中有要找的目標(biāo)，且該目標(biāo)同模板有相同的尺寸、方向和圖像元素，通過(guò)統(tǒng)計(jì)計(jì)算圖像的均值、梯度、距離、方差等特征可以在圖中找到目標(biāo)，確定其坐標(biāo)位置。這就說(shuō)明，我們要找的模板是圖像里標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)存在的，這里說(shuō)的標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)，就是說(shuō)，一旦圖像或者模板發(fā)生變化，比如旋轉(zhuǎn)，修改某幾個(gè)像素，圖像翻轉(zhuǎn)等操作之后，我們就無(wú)法進(jìn)行匹配了，這也是這個(gè)算法的弊端。所以這種匹配算法，就是在待檢測(cè)圖像上，從左到右，從上向下對(duì)模板圖像與小東西的圖像進(jìn)行比對(duì)。
美國(guó)AB——1771-CAD變頻器處理器輸入模塊觸摸屏質(zhì)保一年
美國(guó)AB——1771-CAD變頻器處理器輸入模塊觸摸屏質(zhì)保一年
