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橡膠介質(zhì)損耗測(cè)試儀

橡膠介質(zhì)損耗測(cè)試儀

價(jià)格:24500元瀏覽:457次聯(lián)系:劉元元 / 15132636097 / 企業(yè):北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司留言店鋪收藏

橡膠介質(zhì)損耗測(cè)試儀  介質(zhì)損耗(dielectric loss)指的是絕緣材料在電場(chǎng)作用下,由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失,簡(jiǎn)稱介損。

介質(zhì)損耗因數(shù)(dielectric loss factor)指的是衡量介質(zhì)損耗程度的參數(shù)。

 

橡膠介質(zhì)損耗測(cè)試儀  離子晶體的損耗

離子晶體的介質(zhì)損耗與其結(jié)構(gòu)的緊密程度有關(guān)。

緊密結(jié)構(gòu)的晶體離子都排列很有規(guī)則,鍵強(qiáng)度比較大,如α-Al2O3、鎂橄欖石晶體等,在外電場(chǎng)作用下很難發(fā)生離子松弛極化,只有電子式和離子式的位移極化,所以無極化損耗,僅有的一點(diǎn)損耗是由漏導(dǎo)引起的(包括本質(zhì)電導(dǎo)和少量雜質(zhì)引起的雜質(zhì)電導(dǎo))。這類晶體的介質(zhì)損耗功率與頻率無關(guān),損耗角正切隨頻率的升高而降低。因此,以這類晶體為主晶相的陶瓷往往用在高頻場(chǎng)合。如剛玉瓷、滑石瓷、金紅石瓷、鎂橄欖石瓷等

結(jié)構(gòu)松散的離子晶體,如莫來石(3Al2O3?2SiO2)、董青石(2MgO?2Al2O3?5SiO2)等,其內(nèi)部有較大的空隙或晶格畸變,含有缺陷和較多的雜質(zhì),離子的活動(dòng)范圍擴(kuò)大。在外電場(chǎng)作用下,晶體中的弱聯(lián)系離子有可能貫穿電極運(yùn)動(dòng),產(chǎn)生電導(dǎo)打耗。弱聯(lián)系離子也可能在一定范圍內(nèi)來回運(yùn)動(dòng),形成熱離子松弛,出現(xiàn)極化損耗。所以這類晶體的介質(zhì)損耗較大,由這類品體作主晶相的陶瓷材料不適用于高頻,只能應(yīng)用于低頻場(chǎng)合。

 

Q值測(cè)量

   a.Q值測(cè)量范圍:2~1023。

   b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。

 c.標(biāo)稱誤差

項(xiàng)   目GDAT-A

頻率范圍20kHz~10MHz;

固有誤差≤5%

工作誤差≤7%

頻率范圍10MHz~60MHz;

固有誤差≤6%

工作誤差≤8%

 

結(jié)構(gòu)損耗

在高頻電場(chǎng)和低溫下,有一類與介質(zhì)內(nèi)鄰結(jié)構(gòu)的緊密度密切相關(guān)的介質(zhì)損耗稱為結(jié)構(gòu)損耗。這類損耗與溫度關(guān)系不大,耗功隨頻率升高而增大。

試驗(yàn)表明結(jié)構(gòu)緊密的晶體成玻璃體的結(jié)構(gòu)損耗都很小,但是當(dāng)某此原因(如雜質(zhì)的摻入、試樣經(jīng)淬火急冷的熱處理等)使它的內(nèi)部結(jié)構(gòu)松散后。其結(jié)構(gòu)耗就會(huì)大大升高。

 

滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

 

測(cè)量范圍及誤差

 

    本電橋的環(huán)境溫度為20?5℃,相對(duì)濕度為30%-80%條件下,應(yīng)滿足

 

下列表中的技術(shù)指示要求。

 

    在Cn=100pF    R4=3183.2(W)(即10K/π)時(shí)

 

    測(cè)量項(xiàng)目      測(cè)量范圍            測(cè)量誤差              

 

    電容量Cx       40pF--20000pF      ?0.5%  Cx?2pF     

 

    介質(zhì)損耗tgd      0~1              ?1.5%tgdx?0.0001

 

    在Cn=100pF      R4=318.3(W)(即1K/π)時(shí)

 

    測(cè)量項(xiàng)目      測(cè)量范圍            測(cè)量誤差              

 

    電容量Cx       4pF--2000pF      ?0.5%  Cx?3pF     

 

介質(zhì)損耗tgd      0~0.1          ?1.5%tgdx?0.0001

 

 

輔橋的技術(shù)特性:

 

    工作電壓?12V,50Hz

 

    輸入阻抗>1012 W

 

    輸出阻抗>0.6 W

 

    放大倍數(shù)>0.99

 

不失真跟蹤電壓 0~12V(有效值)

 

特點(diǎn):

 優(yōu)化的測(cè)試電路設(shè)計(jì)使殘值更小

 高頻信號(hào)采用數(shù)碼調(diào)諧器和頻率鎖定技術(shù)

 LED數(shù)字讀出品質(zhì)因數(shù),手動(dòng)/自動(dòng)量程切換

 自動(dòng)掃描被測(cè)件諧振點(diǎn),標(biāo)頻單鍵設(shè)置和鎖定,大大提高測(cè)試速度

 

標(biāo)準(zhǔn)配置:

高配Q表 一只  

試驗(yàn)電極 一只(c類)

電感     一套(9只)

電源線   一條

說明書   一份

合格證   一份

保修卡   一份

 

濕度

 極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加,其結(jié)果使電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電導(dǎo)率增大。因此試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)對(duì)環(huán)境濕度進(jìn)行控制是必不可少的.

 注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在1MHz以下及微波頻率范圍內(nèi)

 

試樣上不加電極

 表面電導(dǎo)率很低的試樣可以不加電極而將試樣插人電極系統(tǒng)中測(cè)量,在這個(gè)電極系統(tǒng)中,試樣的一側(cè)或兩側(cè)有一個(gè)充滿空氣或液體的間隙。

 

C主電容調(diào)節(jié)用步進(jìn)馬達(dá)控制,電容讀數(shù)更加精確,頻率值和電容值均可設(shè)置。A/C電容、電感、Q值、頻率、量程都用數(shù)字顯示,在某一頻率下,只要能找到諧振點(diǎn),都能直接讀出電感、電容值,大大擴(kuò)展了電感的測(cè)量范圍,而不再是固定的幾個(gè)頻率下才能測(cè)出電感值的大小。

 

結(jié)構(gòu)損耗

在高頻電場(chǎng)和低溫下,有一類與介質(zhì)內(nèi)鄰結(jié)構(gòu)的緊密度密切相關(guān)的介質(zhì)損耗稱為結(jié)構(gòu)損耗。這類損耗與溫度關(guān)系不大,耗功隨頻率升高而增大。

試驗(yàn)表明結(jié)構(gòu)緊密的晶體成玻璃體的結(jié)構(gòu)損耗都很小,但是當(dāng)某此原因(如雜質(zhì)的摻入、試樣經(jīng)淬火急冷的熱處理等)使它的內(nèi)部結(jié)構(gòu)松散后。其結(jié)構(gòu)耗就會(huì)大大升高。

 

頻率范圍

10kHz~50MHz

頻率分段

(虛擬)

10~99.9999kHz

100~999.999kHz

1~9.99999MHz

10~60MHz     

 

電容測(cè)量

 

A

C

直接測(cè)量范圍

1~460p

1~205p

主電容調(diào)節(jié)范圍

40~500pF

18~220pF

準(zhǔn)確度

150pF以下?1.5pF;

150pF以上?1%

150pF以下?1.5pF

150pF以上?1%

   注:大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見使用方法。

 

玻璃的損耗

復(fù)雜玻璃中的介質(zhì)損耗主要包括三個(gè)部分:電導(dǎo)耗、松弛損耗和結(jié)構(gòu)損耗。哪一種損耗占優(yōu)勢(shì),取決于外界因素溫度和電場(chǎng)頻率。高頻和高溫下,電導(dǎo)損耗占優(yōu)勢(shì):在高頻下,主要的是由弱聯(lián)系離子在有限范圍內(nèi)移動(dòng)造成的松弛損耗:在高頻和低溫下,主要是結(jié)構(gòu)損耗,其損耗機(jī)理目前還不清楚,可能與結(jié)構(gòu)的緊密程度有關(guān)。般來說,簡(jiǎn)單玻璃的損耗是很小的,這是因?yàn)楹?jiǎn)單玻璃中的“分子”接近規(guī)則的排列,結(jié)構(gòu)緊密,沒有弱聯(lián)系的松弛離子。在純玻璃中加人堿金屬化物后。介質(zhì)損耗大大增加,并且隨著加人量的增大按指數(shù)規(guī)律增大。這是因?yàn)閴A性氧化物進(jìn)人玻璃的點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)后,使離子所在處點(diǎn)陣受到破壞,結(jié)構(gòu)變得松散,離子活動(dòng)性增大,造成電導(dǎo)損耗和松弛損耗增加。

 

電容量及介損顯示精度:

 

    電容量:?0.5%?tgδx?0.0001。

 

    介 損:?0.5%tgdx?1?10-4

 

信號(hào)源頻率覆蓋范圍

     頻率范圍CH1:0.1~0.999999MHz, CH2: 1~9.99999MHz,

     CH3:10~99.9999MHz, CH1 :100~160MHz,

 

高分子材料的損耗

高分子聚合物電介質(zhì)按單體單元偶極矩的大小可分為極性和非極性兩類。一般地,偶極矩在0~0.5D(德拜)范圍內(nèi)的是非極性高聚物;偶極矩在0.5D以上的是極性高聚物。非極性高聚物具有較低的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,其介電常數(shù)約為2,介質(zhì)損耗小于10-4;極性高聚物則具有較高的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,并且極性愈大,這兩個(gè)值愈高。

高聚物的交聯(lián)通常能阻礙極性基團(tuán)的取向,因此熱固性高聚物的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均隨交聯(lián)度的提高而下降。酚醛樹脂就是典型的例子,雖然這種高聚物的極性很強(qiáng),但只要固化比較完全,它的介質(zhì)損耗就不高。相反,支化使分子鏈間作用力減弱,分子鏈活動(dòng)能力增強(qiáng),介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均增大。

高聚物的凝聚態(tài)結(jié)構(gòu)及力學(xué)狀態(tài)對(duì)介電性景響也很大。結(jié)品能抑制鏈段上偶極矩的取向極化,因此高聚物的介質(zhì)損耗隨結(jié)晶度升高而下降。當(dāng)高聚物結(jié)晶度大于70%時(shí),鏈段上的偶極的極化有時(shí)完全被抑制,介電性能可降至最低值,同樣的道理,非晶態(tài)高聚物在玻璃態(tài)下比在高彈態(tài)下具有更低的介質(zhì)損耗。此外,高聚物中的增塑利、雜質(zhì)等對(duì)介電性能也有很大景響。

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